紧缩场测试系统

       紧缩场天线测量系统可以在较小的微波暗室里模拟远场的平面波电磁环境，利用常规的远场测试设备和方法，进行天线测量、雷达散射截面（RCS）测量、整星测试等，具有所需空间小、测试高效、精度高等特点。

     典型指标（可定制）：

频率范围（GHz）：2-500

动态范围（典型值，dB）≥60

静区尺寸（m）：1.0×1.0~6.0×6.0

静区尺寸（m）：1.0×1.0~6.0×6.0

交叉极化（dB）：-30

静区幅度波动（典型值，dB）：±0.5  

静区相位波动（典型值，°）：±5 

 

系统组成：

微波暗室屏蔽和吸波系统、紧缩场反射面和馈源系统、转台系统、测试于控制软件系统等。