检测中心

                                                                                               

检测中心由微波暗室和天线近远场测试系统组成，其中近场测试系统包括：平面、柱面、球面近场测试系统测试系统组成，测试频率范围1~ 40 GHz。

微波暗室尺寸12m（长）×7m（宽）×7m（高）。平面近场扫描架尺寸4.5（m）×4.5（m），位置精度0.05mm，平面度0.05mm。近远场转台结构为下方位上极化。柱面方位转台承重200 Kg，球面/远场滚动转台承重20 Kg。

系统可以对各种天线包括馈源、喇叭、微带天线、基站天线、反射面天线、相控阵天线、DBF天线等进行方向图、增益、轴比、副瓣、零深、波束宽度、前后比、不圆度、波束效率、EIRP等参数的测量和分析，获得天线的各个切面方向图和空间立体方向图。系统支持脉冲宽度几十纳秒到几百微秒调制范围、具备相控阵通道校准与验证、多通道测试、三维相位中心、自动化脚本测试、输出报告等功能，满足各类天线产品研究、生产的测试/检测需求。

       系统配备低噪声放大器、功率放大器以及扩频模块（40GHz-67GHz），近场动态范围≥70 dB，远场动态范围≥50 dB。

系统测试精度：

幅度重复测量精度：≤0.1 dB

相位重复测量精度：≤0.5°  

增益测试精度：≤0.25 dB

副瓣测试精度：≤0.5 dB@-20 dB，≤1.5 dB@-30 dB

交叉极化测试精度：≤0.5 dB@-20 dB，≤0.5 dB@-30 dB