平面近场测试系统

       天线平面近场测试用一个特性已知的探头，在离待测天线几个波长(3-10λ)的某一平面上进扫描，测量天线在该平面离散点的幅度与相位分布，通过平面波展开得到被测天线的远场区的辐射特性进而确定天线远场方向图。

系统组成：

       平面近场测试系统包括微波暗室屏蔽和吸波系统、机械子系统、射频子系统、控制与测试软件、数据处理软件等。机械子系统主要包含扫描架、扫描架控制器、探头极化旋转装置、各型号波导探头。射频子系统有发射、接收两部分。

          

          

       应用场景：

       高增益天线（增益≥15 dBi）的测量如反射面天线、卫星天线、相控阵天线、THz天线、微波输能天线等以及整星测试。

主要性能指标：

             天线增益测试；

             天线方向图：副瓣电平、波束宽度、差零深测试；

             天线近场诊断功能测试；

             多频点、多通道、多波位（波束数量＞5万个）测试功能；

             相控阵通道校准、脉冲测试、DBF测试。测试误差：

             增益测量误差≤±0.3dB（不含标准增益喇叭自身误差）；

             -20dB副瓣时≤±0.8dB

             -30dB副瓣时≤±2dB

             -40dB副瓣时≤±3dB

             幅度精度（RMS）：0.1dB；

            相位精度（RMS）：1°；